FT-IR イメージング装置

   
  顕微鏡FT-IRは異物の特定や微小サンプルの測定に使われますが、FT-IRイメージング装置は、CCDを使用し、従来 ”点”でしか取れなかった情報を ”面”で集めることでサンプルの分布状態等の情報が得られます。
 
  FT-IRイメージング装置は、サンプル面をアレイ検出器で高速スキャンし、赤外線領域の情報を2次元サンプルや目的に応じたイメージとして表します。
従来、顕微鏡FT-IR で微小部分を測定する場合、カメラや目視で微小部分を確認します。
その場合、可視の領域で場所を決め、赤外の領域で測定をしていました。しかし異物や測定面が基材と全く同じ色をしていると、目視での確認では赤外情報の大事な部分を見落とす危険があります。
 
  FT-IRイメージング装置は、赤外領域で情報を取り込み、面としての赤外分析が可能となります。
FT-IRイメージング装置検出器のピクセルサイズは、6.25µm、25µm、50µm から選択が出来、Zホールド機構(特許)により検出素子への倍率を調整しながら空間分解能を指定できます。
  サンプルの比較的広い範囲を高速でイメージする際には「ワイドエリアサーベイモード」(50µm、 25µm/ピクセル)で、微少部位を高感度でイメージする際には「ハイレゾリューションモード」(6.25µm/ピクセル)を選択することも可能です。
 
  FT-IRイメージング装置は、400µm×400µm までの広域測定に対応したイメージング測定が可能です。
FT-IRイメージング装置は、顕微鏡FT-IRの新しい段階です。
従来、一部分の確認しか出来なかった赤外分析で全体を確認することが出来るようになりました。
         
       
         
         
         



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