サンプルテスト事例 : ミクロトームとの比較

卓上傾斜切削機

 
3. ミクロトームとの比較
 
従来、層構造のサンプルの前処理にはミクロトームが良く使われてきました。
ミクロトームは斜め切削ではなく、サンプルの層に対して垂直な方向に試料を切り出します。
今回、比較のためミクロトームを使い、このようなサンプルの場合に従来一般的に行われてきた方法で同じサンプルを分析しました。

ミクロトームでの切り出し
(株)パーキンエルマージャパン大阪ラボ提供の資料より
 
今回と同じサンプルに対して、ミクロトームで10μmの断面を作成しダイヤモンドコンプレッションセルで挟み、顕微鏡の透過法で測定しました。
 
 
◆ ミクロトームで切り出したサンプルのイメージング
ミクロトームで切り出したサンプルのイメージング
(株)パーキンエルマージャパン大阪ラボ提供の資料より
 
従来の方法では、切断してサンプルはダイヤモンドコンプレッションセルを使って両側から挟みこみ、圧力を加えることによって測定面を出します。単純に断面を引き伸ばしただけでは上下の層の情報がはいりこんでくる為、層固有の情報だけを取り出すことは非常に困難です。
上記のデータでは、PPと炭カル+カリオンに挟まれたウレタン系の樹脂の情報は確認することがほとんど困難です。

ATRイメージング測定法と斜め切削機を使用した前処理を組み合わせることによって、従来手法では不可能であった深さ方向の非常に薄い層、及び各層の詳細な分析が可能となります。
 
 


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