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ATR法

FT-IR 周辺アクセサリー


	サンプルをクリスタルに密着させて測定します。
	IR光はクリスタルの中を通りサンプルの表面に潜り込んだ光（エバネッセント波）に含まれる情報を得ます。クリスタルの種類によって潜り込みの深さを変更することが可能です。

お問い合わせ先

愛知県名古屋市千種区池下1-11-21
TEL：052-764-3341　FAX：052-764-3340

* 記載の会社名および製品名は、各社の登録商標および商標です。