ターンキーHILテストベンチ
OPAL-RT Turnkey HIL Test Benches

航空宇宙、自動車、および電力システム業界内の組み込みコントローラーの複雑さや、それを取り巻く規制は、製造コストの削減と新製品の市場投入までの時間または認証プロセスの最適化に追われるメーカーおよびサプライヤーにとって新たな課題となっています。
複雑さに関係なく、エンジニアリングシステムを忠実に再現できる、専用でありながら汎用コスト効率の高いテストベンチが必要とされています。
さらに問題を複雑にしているのは、航空宇宙および自動車業界の電気搭載システムへの移行により、ほとんどの機械システムでは見られない高周波電磁現象をモデル化できるテスト環境が必要になったことです。
Hardware-in-the-Loop(HIL)やSoftware-in-the-Loop(SIL)ユニットなどの閉ループテストベンチは、従来の開ループシステムにはない、広範なテストケースカバレッジを提供できます。
テストベンチは(必要ですが)、社内で実装するにはコストと時間がかかり、コアプロジェクトからリソースがそがれます。
OPAL-RTは、HILおよびSIL用ターンキーテストベンチを提供し、技術、予算、およびプロジェクト管理の要件を満たしながら、製品にきちんと適合します。
複雑さに関係なく、エンジニアリングシステムを忠実に再現できる、専用でありながら汎用コスト効率の高いテストベンチが必要とされています。
さらに問題を複雑にしているのは、航空宇宙および自動車業界の電気搭載システムへの移行により、ほとんどの機械システムでは見られない高周波電磁現象をモデル化できるテスト環境が必要になったことです。
Hardware-in-the-Loop(HIL)やSoftware-in-the-Loop(SIL)ユニットなどの閉ループテストベンチは、従来の開ループシステムにはない、広範なテストケースカバレッジを提供できます。
テストベンチは(必要ですが)、社内で実装するにはコストと時間がかかり、コアプロジェクトからリソースがそがれます。
OPAL-RTは、HILおよびSIL用ターンキーテストベンチを提供し、技術、予算、およびプロジェクト管理の要件を満たしながら、製品にきちんと適合します。
OPAL-RTの存在価値

各テストベンチでは、予備設計レビュー(PDR)、重要設計レビュー(CDR)、工場受入試験(FAT)が行われるため、納品時に驚くことが起きるようなことはありません。
OPAL-RTは、専用のオンサイトサイト受け入れテスト、設置、試運転も提供することも可能です。
各OPAL-RTテストベンチには、少なくとも1台の最先端リアルタイムシミュレータが含まれており、カスタムインターフェースボックスとケーブルハーネスによってテスト対象のデバイスに接続され、お客様の仕様ごとに専門家によって正確に設計されています。
カスタマイズと円滑化をさらにテストするために、パワーアンプ、フォールト挿入ユニット(FIU)、ロードボックス、ブレイクアウトボックス(BOB)、バッテリーシミュレーター、プログラム可能な抵抗など、多数のOPAL-RTおよびサードパーティシステムが利用可能です。
すべてのテストベンチで、出荷前に電気安全基準を満たすことが認定できます。
OPAL-RTの垂直統合により、エンジニア、開発者、専門家のチームにアクセスでき、世界で最も高度な組み込みコントローラー向けに高度にカスタマイズされたテストベンチを提供できます。
カスタマイズされたシグナルコンディショニングボード、高度なFPGAおよびCPUモデル、通信プロトコルサポート、自動テストスクリプトまたはカスタムユーザーインターフェイス(UI)等 要件がどのようなものであっても、OPAL-RTはあらゆるテストベンチの課題に対応できます。
お客様の声
プラット・アンド・ホイットニー・カナダは、1999年秋にOPAL-RTと協力することで、主要輸送機器メーカーにアプリケーションと関連制御システムを供給する契約を獲得しました。このツールのおかげで、制御システムを迅速に開発およびテストができ、積極的なプロジェクトスケジュールを満たすことができました。
それ以来、システムは設計および検証段階から最初のエンジンの実行から低速および高速の軌道試験まで正常に進行しました。
Serge Daudelin
Senior Project Engineer Industrial Programs, Pratt and Whitney Canada